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百利通亞陶晶振,有源晶振,FD晶振,FD2450017晶振,石英晶振的切割設計：用不同角度對晶振的石英晶棒進行切割，可獲得不同特性的石英晶片，通常我們把晶振的石英晶片對晶棒坐標軸某種方位（角度）的切割稱為石英晶片的切型。不同切型的石英晶片，因其彈性性質，壓電性質，溫度性質不同，其電特性也各異，石英晶振目前主要使用的有 AT 切、BT 切。其它切型還有 CT、DT、GT、NT 等。

5032mm體積的石英晶體振蕩器,有源晶振,該產品可驅動2.5V的溫補晶振,壓控晶振,VC-TCXO晶體振蕩器產品,電源電壓的低電耗型,編帶包裝方式,可對應自動高速貼片機自動焊接,及IR回流焊接(無鉛對應),為無鉛產品,超小型,質地輕.產品被廣泛應用到集成電路,程控交換系統,無線發射基站.

Diodes 公司為領先業界的高質量應用特定5032晶振產品全球制造商與供貨商，產品涵蓋廣泛領域，包括獨立、邏輯、模擬及混合訊號半導體市場。Diodes 服務的市場包括消費性電子、計算機、通訊、工業及汽車市場。Diodes公司生產設施已達到 QS-9000、ISO-9001:2008、TS16949:2002 及 ISO 14001 認證的品質獎。Diodes 公司目前擁有 C-TPAT 認證。上述質量獎反映 Diodes 公司優異的品管技術，并進一步提升我們在重視質量與一致性的 OEM 業者心目中最佳廠商的地位。

項目	符號	規格說明	條件
輸出頻率范圍	f0	24.567MHZ	請聯系我們以便獲取其它可用頻率的相關信息
電源電壓	VCC	3.3V	請聯系我們以了解更多相關信息
儲存溫度	T_stg	-55℃to +125℃	裸存
工作溫度	T_use	G: -40℃to +85℃	請聯系我們查看更多資料http://m.bainawang.com.cn
		H: -40℃to +105℃
		J: -40℃to +125℃
頻率穩定度	f_tol	J: ±50 × 10-6
		L: ±100 × 10-6
		T: ±150 × 10-6
功耗	ICC	3.5 mA Max.	無負載條件、最大工作頻率
待機電流	I_std	3.3μA Max.	ST=GND
占空比	SYM	45 % to 55 %	50 % VCC極, L_CMOS≦15 pF
輸出電壓	VOH	VCC-0.4V Min.
輸出電壓	VOL	0.4 V Max.
輸出負載條件	L_CMOS	15 pF Max.
輸入電壓	VIH	80% VCCMax.	ST終端
輸入電壓	VIL	20 % VCCMax.	ST終端
上升/下降時間	tr / tf	4 ns Max.	20 % VCCto 80 % VCC極, L_CMOS=15 pF
振蕩啟動時間	t_str	3 ms Max.	t=0 at 90 %
頻率老化	f_aging	±3 × 10-6/ year Max.	+25℃,初年度,第一年

百利通亞陶臺產進口OCS晶振型號列表:

Series型號	Frequency 頻率	Frequency Stability頻率穩定度	Operating Temperature 工作溫度	Package / Case包裝/封裝	Size / Dimension 尺寸	Height - Seated (Max)高度
SaRonix-eCera™ FD	24.576MHz	±50ppm	-40°C ~ 85°C	4-SMD, No Lead	0.197" L x 0.126" W (5.00mm x 3.20mm)	0.051" (1.30mm)
SaRonix-eCera™ FD	24.576MHz	±50ppm	-40°C ~ 85°C	4-SMD, No Lead	0.197" L x 0.126" W (5.00mm x 3.20mm)	0.051" (1.30mm)
SaRonix-eCera™ FD	24.576MHz	±50ppm	-40°C ~ 85°C	4-SMD, No Lead	0.197" L x 0.126" W (5.00mm x 3.20mm)	0.051" (1.30mm)
SaRonix-eCera™ FN	25.000625MHz	±25ppm	-40°C ~ 85°C	4-SMD, No Lead	0.276" L x 0.197" W (7.00mm x 5.00mm)	0.061" (1.55mm)
SaRonix-eCera™ FN	25.000625MHz	±25ppm	-40°C ~ 85°C	4-SMD, No Lead	0.276" L x 0.197" W (7.00mm x 5.00mm)	0.061" (1.55mm)
SaRonix-eCera™ FN	25.000625MHz	±25ppm	-40°C ~ 85°C	4-SMD, No Lead	0.276" L x 0.197" W (7.00mm x 5.00mm)	0.061" (1.55mm)
SaRonix-eCera™ FN	48MHz	±50ppm	-20°C ~ 70°C	4-SMD, No Lead	0.276" L x 0.197" W (7.00mm x 5.00mm)	0.071" (1.80mm)
SaRonix-eCera™ FN	48MHz	±50ppm	-20°C ~ 70°C	4-SMD, No Lead	0.276" L x 0.197" W (7.00mm x 5.00mm)	0.071" (1.80mm)

百利通亞陶臺產進口OCS晶振編碼列表:

FD2450017	Diodes Incorporated	SaRonix-eCera™ FD	24.576MHz	±50ppm	-40°C ~ 85°C	4-SMD, No Lead	0.197" L x 0.126" W (5.00mm x 3.20mm)	0.051" (1.30mm)
FD2450017	Diodes Incorporated	SaRonix-eCera™ FD	24.576MHz	±50ppm	-40°C ~ 85°C	4-SMD, No Lead	0.197" L x 0.126" W (5.00mm x 3.20mm)	0.051" (1.30mm)
FD2450017	Diodes Incorporated	SaRonix-eCera™ FD	24.576MHz	±50ppm	-40°C ~ 85°C	4-SMD, No Lead	0.197" L x 0.126" W (5.00mm x 3.20mm)	0.051" (1.30mm)
FN2500140	Diodes Incorporated	SaRonix-eCera™ FN	25.000625MHz	±25ppm	-40°C ~ 85°C	4-SMD, No Lead	0.276" L x 0.197" W (7.00mm x 5.00mm)	0.061" (1.55mm)
FN2500140	Diodes Incorporated	SaRonix-eCera™ FN	25.000625MHz	±25ppm	-40°C ~ 85°C	4-SMD, No Lead	0.276" L x 0.197" W (7.00mm x 5.00mm)	0.061" (1.55mm)
FN2500140	Diodes Incorporated	SaRonix-eCera™ FN	25.000625MHz	±25ppm	-40°C ~ 85°C	4-SMD, No Lead	0.276" L x 0.197" W (7.00mm x 5.00mm)	0.061" (1.55mm)
FN4800068	Diodes Incorporated	SaRonix-eCera™ FN	48MHz	±50ppm	-20°C ~ 70°C	4-SMD, No Lead	0.276" L x 0.197" W (7.00mm x 5.00mm)	0.071" (1.80mm)
FN4800068	Diodes Incorporated	SaRonix-eCera™ FN	48MHz	±50ppm	-20°C ~ 70°C	4-SMD, No Lead	0.276" L x 0.197" W (7.00mm x 5.00mm)	0.071" (1.80mm)

FD2450017 5.0_3.2 OSC

耐焊性：將晶振加熱包裝材料至+150°C以上會破壞產品特性或損害產品。如需在+150°C以上焊接5032有源晶振,建議使用SMD晶振產品。在下列回流條件下,對石英晶振產品甚至SMD貼片晶振使用更高溫度,會破壞晶振特性。建議使用下列配置情況的回流條件。安裝這些貼片晶振之前,應檢查焊接溫度和時間。同時,在安裝條件更改的情況下,請再次進行檢查。如果需要焊接的晶振產品在下列配置條件下進行焊接,請聯系我們以獲取耐熱的相關信息。百利通亞陶晶振,有源晶振,FD晶振,FD2450017晶振

石英晶振自動安裝和真空化引發的沖擊會破壞產品特性并影響這些四腳有源晶振產品。請設置安裝條件以盡可能將沖擊降至最低,并確保在安裝前未對晶振特性產生影響。條件改變時,請重新檢查安裝條件。同時,在安裝前后,請確保石英晶振產品未撞擊機器或其他電路板等。

存儲事項:(1) 在更高或更低溫度或高濕度環境下長時間保存時,會5032四腳有源晶振影響頻率穩定性或焊接性。請在正常溫度和濕度環境下保存這些石英晶振產品,并在開封后盡可能進行安裝,以免長期儲藏。正常溫度和濕度：溫度：+15°C 至 +35°C,濕度 25 % RH 至 85 % RH。 (2) 請仔細處理內外盒與卷帶。外部壓力會導致卷帶受到損壞。